المستودع الأكاديمي جامعة المدينة

Infrared analysis of thin films: amorphous, hydrogenated carbon on silicon

Infrared analysis of thin films: amorphous, hydrogenated carbon on silicon

Jacob Wolfgang; Keudell Achim vom; Schwarz-Selinger Thomas
رابط: http://koha.mediu.edu.my:8181/jspui/handle/123456789/3162
تاريخ: 2013-05-30

أعرض تسجيلة المادة الكاملة

الملفات في هذه المادة

الملفات الحجم الصيغة عرض

لا توجد أي ملفات مرتبطة بهذه المادة.

هذه المادة تبدو في المجموعات التالية: