| dc.creator |
Robert Renê |
|
| dc.date |
2001 |
|
| dc.date.accessioned |
2013-05-29T20:38:43Z |
|
| dc.date.available |
2013-05-29T20:38:43Z |
|
| dc.date.issued |
2013-05-30 |
|
| dc.identifier |
http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0102-47442001000300007 |
|
| dc.identifier |
http://www.doaj.org/doaj?func=openurl&genre=article&issn=01024744&date=2001&volume=23&issue=3&spage=294 |
|
| dc.identifier.uri |
http://koha.mediu.edu.my:8181/jspui/handle/123456789/1796 |
|
| dc.description |
Os fenômenos de descarga interna e tensão de retorno em capacitores são calculados no caso onde a resposta do dielétrico é da forma exponencial no tempo. Com esta hipótese a matemática envolvida é simples e as características gerais dos fenômenos de hereditariedade podem ser seguidas. |
|
| dc.publisher |
Sociedade Brasileira de Física |
|
| dc.source |
Revista Brasileira de Ensino de Física |
|
| dc.title |
Descarga Interna e Tensão de Retorno em Capacitores |
|