DSpace Repository

C60 fullereno modificado por haces de iones de baja energía para prevenir el efecto multipactor

Show simple item record

dc.creator Montero, I.
dc.creator Román, E.
dc.creator Ripalda, José María
dc.creator Galán, L.
dc.date 2008-05-14T06:57:27Z
dc.date 2008-05-14T06:57:27Z
dc.date 2005-03
dc.date.accessioned 2017-01-31T01:16:42Z
dc.date.available 2017-01-31T01:16:42Z
dc.identifier Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio 44(2): 123-125 (2005)
dc.identifier 0366-3175
dc.identifier http://hdl.handle.net/10261/4221
dc.identifier.uri http://dspace.mediu.edu.my:8181/xmlui/handle/10261/4221
dc.description [ES] Se ha estudiado la interacción de los iones H2+, N2+, O2+ y Ar+ de baja energía con películas delgadas de fullereno C60. Después del bombardeo iónico, la densidad de estados cerca del nivel de Fermi aumenta de forma apreciable, según se observa en los espectros de fotoemisión obtenidos usando radiación sincrotrón. El bombardeo iónico con una energía de tan sólo 50 eV y una fluencia de 4x10^14 ion/cm2 es suficiente para modificar la simétrica estructura de caja del fullereno y obtener carbono amorfo grafítico. El nitrógeno y el oxígeno se implantan al bombardear con una energía de 50 eV, mientras que la implantación es despreciable en el caso del hidrógeno y argon. Las películas de fullereno poseen un coeficiente máximo de emisión secundaria inferior a 1.3 incluso después de su exposición al aire, el cual disminuye después del bombardeo con iones de N2+ y Ar+.
dc.description [EN] C60 fullerene modified by low-energy ion beams of H2+, N2+, O2+ and Ar+ has been studied. After ion bombardment, the photoemission spectra obtained using synchrotron radiation show an increase of the density of states just bellow the Fermi level. Ion bombarment of C60 with 50 eV energy and 4×1014 ion/cm2 fluence is sufficient to modify the cage structure of the fullerene and to obtain graphitic amorphous carbon. Upon bombarding with an energy of 50 eV, implantation of the nitrogen and the oxygen ions was observed, while implantation of the hydrogen and argon ions was small. The maximum secondary emission yield of C60 thin films is lower than 1.3 even after air exposure. A significant improvement on the secondary emission properties can be obtained after bombardment by low-energy Ar+ and N2+ ion beams.
dc.description Financiación del Ministerio de Ciencia y Tecnología de España, proyecto coordinado n: ESP2002-04509-C04-04 y ESP2002-04509-C04-02, y de la Comunidad Europea proyecto TMR n: ERBFMGECT950022.
dc.description Peer reviewed
dc.format 231578 bytes
dc.format application/pdf
dc.language spa
dc.publisher Sociedad Española de Cerámica y Vidrio
dc.relation http://boletines.secv.es/es/index.php?id=12&vol=44
dc.rights openAccess
dc.subject Fullereno
dc.subject Espectroscopía de fotoemisión
dc.subject Emisión secundaria
dc.subject Multipactor
dc.subject Photoemission spectroscopy
dc.subject Secondary electron emission
dc.subject Multipactor
dc.title C60 fullereno modificado por haces de iones de baja energía para prevenir el efecto multipactor
dc.title C60 fullereno modified by low-energy ion beams to prevent the multipactor effect
dc.type Artículo


Files in this item

Files Size Format View

There are no files associated with this item.

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search DSpace


Advanced Search

Browse

My Account